Zielgruppe: Personen, die Patentrecherchen durchführen
Voraussetzungen: Vorausgesetzt werden grundlegende Kenntnisse im Patentwesen sowie ausreichende Kenntnisse beim Recherchieren in STN-Datenbanken
Ziel: Das Ziel des Seminars ist eine Verbesserung der Suchergebnisse durch die Nutzung der Patentklassifikationen.
Inhalt: Das Seminar beinhaltet eine umfassende Information über die verschiedenen Patentklassifikationen (IPC, US Klassifikation, F-Terms sowie ECLA) unter Berücksichtigung der IPC 8 Reform und deren Umsetzung in den STN Patentdatenbanken mit neuen Such- und Analysemöglichkeiten.
Veranstaltungsort: Computer & Management Training GmbH Hansastraße 32 80686 München Karte
